在固吧经常看到一些人用硬盘坏道扫描软件扫固态，并且在楼中有大量人嘲讽楼主是小白，固态没有坏道，扫描会减少固态寿命。诚然固态是没有磁道一说，但是用这来扫固态真的会减少寿命吗？是什么原因导致减少寿命？我猜想这些人大致是认为用这些软件扫固态会有大量的读写操作，整盘的扫描会写入相当一次PE的数据，进而减少固态的TBW。我认为这是不对的认知。这些坏道扫描软件扫描时只是读操作，并不会大量写入数据，所以不会增加固态的TBW值。

实测如下：
扫描前 Data Units Read 值 20.23 TB
Data Units Written 值 5.90 TB

扫描中看任务管理器磁盘只有读操作

完整扫了一遍

扫描后 Data Units Read 值 20.68 TB
Data Units Written 值 5.90 TB

可以看到写入量没有任何变化还是5.90 TB，只是数据读取数量增加了20.68-20.23=0.45TB≈460GB，我这张盘是500GB的实际容量为500*1000*1000*1000byte/1024/1024/1024≈465GB，除去显示误差，可以说整个扫描过程就是数据读取，不影响固态的TBW。那么如果说对寿命有影响会是什么影响呢？负载？整个扫描过程只有温度变化扫前温度38/40（颗粒/芯片），扫后温度42/48（颗粒/芯片），如果说这样的负载会明显减少固态主控寿命，那我建议关机，永远不要用了。

可以看到写入量没有任何变化还是5.90 TB，只是数据读取数量增加了20.68-20.23=0.45TB≈460GB，我这张盘是500GB的实际容量为：500*1000*1000*1000byte/1024/1024/1024≈465GB，除去显示误差，可以说整个扫描过程就是数据读取，不影响固态的TBW。那么如果说对寿命有影响会是什么影响呢？负载？整个扫描过程只有温度变化扫前温度38/40（颗粒/芯片），扫后温度42/48（颗粒/芯片），如果说这样的负载会明显减少固态主控寿命，那我建议关机，永远不要用了。

又不是写入

可以看到写入量没有任何变化还是5.90 TB，只是数据读取数量增加了20.68-20.23=0.45TB≈460GB，我这张盘是500GB的实际容量为465GB，除去显示误差，可以说整个扫描过程就是数据读取，不影响固态的TBW。那么如果说对寿命有影响会是什么影响呢？负载？整个扫描过程只有温度变化扫前温度38/40（颗粒/芯片），扫后温度42/48（颗粒/芯片），如果说这样的负载会明显减少固态主控寿命，那我建议关机，永远不要用了。

扫描固态确实只读不写不消耗寿命，读取时间仅供参考，非系统盘没有系统干扰更准确。实际上好的主控会自动屏蔽坏块，扫描意义不大，真扫出大量坏块差不多是固态快报废了。

因为他们的固态硬盘测出来太难看啦，三星固态不惧扫描坏道坏块坏扇区，西数蓝盘很明显的例子

扫不会
刷新会
用hiwinfo或hd turn 监控下就知道了

一次毫无意义的全盘读取？

即使是hdd，人家本来是出现问题的检测工具，一堆人用来作为质量检验，真是无聊至极