Mechanical Devices开发生产并向主要半导体器件制造商提供创新的成本效益热控制单元，以测试IC器件。其中，Max TC广泛应用于芯片可靠性测试领域，包括但不限于材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试以及失效分析等可靠性试验。它特别适用于对芯片进行高温、低温或高低温环境下的性能测试，以确保芯片在各种恶劣条件下的稳定性和可靠性。
提供全国范围内的Max TC接触式高低温冲击机设备故障的快速支持，并可在我们的工厂进行高标准的维修、保养及改造（重建）服务。通过设计和改造的系统（根据现场环境定制或配置），我们可以提供一个完整的系统解决方案。