我来了 - ofo吧

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工大老学长楼主

2021年07月05日 00点07分 1

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工大老学长楼主

基于BSIMSOI的SOI-MOSFET模型研究 - 道客巴巴 (doc88.com)

2021年09月03日 09点09分 4

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工大老学长楼主

https://www.doc88.com/p-3896990714282.html?r=1

2021年09月03日 09点09分 5

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工大老学长楼主

HFSS, ADS Momentum和EMX比较 (sohu.com)

2021年10月11日 02点10分 6

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工大老学长楼主

/http://www.sohu.com/a/194029121_472928

2021年10月11日 02点10分 7

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工大老学长楼主

mp.weixin.qq.com/s/5n3LBprelHrouVOm6AdyvA

2021年10月11日 07点10分 8

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工大老学长楼主

Bbs.eetop.cn/thread-349748-1-1.html

2021年10月14日 07点10分 9

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工大老学长楼主

http://www.chiplayout.net

2021年11月01日 05点11分 10

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工大老学长楼主

bs.eetop.cn/thread-847981-1-1.html

2022年01月14日 01点01分 25

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工大老学长楼主

blog.zy-xcx.cn/?id=14

2022年01月14日 05点01分 26

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enku.baidu.com/view/1417484f49649b6649d74737.html

2022年01月14日 05点01分 27

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工大老学长楼主

aa[无效] http://pan.baidu.com/s/1i3AKER7

2022年01月28日 07点01分 28

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工大老学长楼主

Carbon Junction Implant: Effect on Leakage Currents and Defect
Distribution

2022年02月07日 10点02分 30

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工大老学长楼主

A reliable approach
to charge-pumping measurement in MOS transistors

2022年02月07日 12点02分 31

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工大老学长楼主

Lateral profiling of oxide charge and
interface traps near the MOSFET junctions
Characterization and modeling of gate-induced-drain-leakage,” IEICE
Transactions on Electron Devices

2022年02月07日 12点02分 32