silvaco仿SPAD暗计数率
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nyuall💫
楼主
关于silvaco仿SPAD的暗计数率,读了文献但是还是不太清楚,电子空穴的寿命taun、taup和SRH 复合时的陷阱能量(Et-Ei)这两个应该怎么得到,看文献像是自己设置的?具体的仿真步骤应该是怎样的呢?求大佬指点
2024年06月11日 09点06分
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597362331
taun和taup是自己设置的,但是这个在软件中有默认值,你不设置也能跑出来。另外,这两个τ和常规理解的载子寿命是不一样的,这个说明书中有解释。
Et是Trap Energy Level,你需要定义材料的缺陷态,可以用defect指令,也可以用trap指令,另外可以参考BB.KLA,我经常用这个模型,觉得和实验结果比较匹配。
2024年06月11日 16点06分
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nyuall💫
我有点不太懂的是,taun和taup以及缺陷设置多少。。另外想请问一下BB.KLA指的是Klassen模型吗
?
2024年06月12日 08点06分
597362331
以常见的硅仿真举例,τ默认是1E-7秒,如果你没有其他可靠的结果,比如第一性原理仿真,或者通过一些手段测试表征出来的,建议不要改,就用默认值。缺陷态密度有效的范围应该是1E15到1E19,除此之外你还要看它的能带位置,以及施主还是受主类。
2024年06月13日 08点06分
597362331
@nyuall💫
关于Klaassen模型,具体你可以去读他的Paper,标题“Physical modeling bipolar device simulation”
2024年06月13日 08点06分
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597362331
怎么样了,还有什么问题没?
2024年06月15日 21点06分
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nyuall💫
关于缺陷态密度那部分,我不知道这个器件详细的属性,所以我直接令的etrap=0.1左右(我看一些文献中也用了这个值),这样算下来的DCR还是有点偏大,很头疼,不知道错在哪里了
2024年06月17日 07点06分
nyuall💫
@nyuall💫
emmmm不是有点偏大,是很大,分子那部分,n和p的乘积有大概35次方,这样算下来暗计数有14次方,物理学都被我颠覆了
2024年06月17日 07点06分
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597362331
0.1eV应该不太合理,另外你的DCR是要看多少电压下的?
2024年06月17日 09点06分
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nyuall💫
那我重新调一下etrap,过电压0.4V
2024年06月17日 09点06分
597362331
你做的是2D截面仿真吧?
2024年06月17日 09点06分
nyuall💫
@597362331
是的 我看很多人也是2D的仿真呢
2024年06月17日 15点06分
nyuall💫
@597362331
我还有一个问题就是 我好像可以直接得到SRH Recomb rate,可以直接用这个乘雪崩概率进而得到暗计数吗
2024年06月18日 07点06分
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