level 1
贴吧用户_a383XZV
楼主
FIB切割芯片测试
我们 实验室为做芯片的FIB切割芯片测试：
FIB切割芯片测试
对芯片内部进行厚度测量：
解剖芯片后可以发现纳米级芯片缺陷微孔
FIB切割芯片样品测试
对芯片切割面成份做元素分析：
FIB切割芯片样品元素扫描
2021年08月18日 05点08分
1
我们 实验室为做芯片的FIB切割芯片测试：
FIB切割芯片测试对芯片内部进行厚度测量：
解剖芯片后可以发现纳米级芯片缺陷微孔
FIB切割芯片样品测试对芯片切割面成份做元素分析：
FIB切割芯片样品元素扫描