触式高低温冲击机ThermoTST ATC800E通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。
接触式高低温冲击机ThermoTST ATC800E应用：
芯片测试：ThermoTST ATC800E能够精确控制待测器件（DUT）的温度，适用于IC特性测试、失效分析以及ATE、SLT等测试场景。它特别适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以只控制待测芯片温度而不影响外围电路，从而排除外围电路引起的不确定性。
元器件及模块测试：该设备可用于测试闪存Flash、UFS、eMMC、PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件等，进行高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
光通讯测试：如收发器Transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等。