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气孔 裂纹微焦x射线检测… 气孔 裂纹微焦x射线检测 气孔 裂纹 瑕疵品、缺陷X光机异物检测… 仪器采用数字化和微焦x射线约束射线管,数字DR平板影像装置和内置式高压发生装置,软件操作界面,数学高清成像,图像更加清晰。主要应用于工业制品中的缺陷、焊点、产品结构等非破坏性检测分析,还可用于汽车零部件、铝压铸模铸件、塑料注件、陶瓷制品的断层和气孔检测……
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数字平板探测器 数字DR平板影像装置、软件操作界面,数字X-RAY高清成像,图像清晰。主要应用于电子工业生产安装中的缺陷、焊点、产品结构、电子元件、芯片等非破坏性检测分析,还可用于汽车零部件、铝压铸模铸件、塑料注件、陶瓷制品的断层和气孔检测;…
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无损检测X光高清成像 金属异物检测设备 铸件气孔X光机检测设备功能与原理 铸件气孔X光机检测设备主要功能包括安全检测、工业电子、无损检测和X光高清成像.
空调管检测仪 电热管,电热丝,芯片,连接器,电子开关,扦头检测仪器 商业航天X-RAY检测仪器 商业航天检测仪器用于:无人机、济商业航天的电子产品的配件、生产制造、汽车工业、航空航天、航空商业、电子元件、芯片、接扦件、线缆、开关、IC,CPU芯片、材料科学研究、器械等多个领域的焊点、裂纹、气孔、异物等缺陷形态等等无损检测。
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工业X-RAY检测仪器 商业航天X-RAY检测仪器 商业航天X-RAY检测仪器 商业航天检测仪器用于:无人机、济商业航天的电子产品的配件、生产制造、汽车工业、航空航天、航空商业、电子元件、芯片、接扦件、线缆、开关、材料科学研究、器械等多个领域的焊点、裂纹、气孔、异物等缺陷形态等等无损检测。
平板探测器数字DRX-RAY工检测系统 平板探测器,1613平板探测器(先威光电); 1613XCD 技术资料 1613XCD是款高性能的平板探测器,具有.低功耗、 快速和可靠的图像传输、图像质量高等特点,同时 1613XCD 具备高度灵敏、稳定的自动曝光感。 描述 规格 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI 图像尺寸 (mm)159.25×128 像素矩阵 1280×1024 像素间距 (um) 125 A/D 转换 (bits) 16 灵敏度 (LSB/nGy,RQA5) 1.4 -------------------------------- 空间分辨率 (LP/mm)4 X-射线工作范围 (kV)40/-/150 探测器对外接口接口TYPE-C 数据接口类型 千兆网口 功率 (W) 12 交流电源 (V)100/-/240 AC 交流电源频率 (Hz)50/-/60 适配器输出电压 (V)24 DC 探测器尺寸 (cm)16x19.5x1.5 探测器重量 (kg,不含线缆) 0.8±0.1 探测器外壳材料 碳板,铝合金 存储温度 (ºC) -20/-/55 工作温度 (ºC) 5/-/35 存储和运输湿度 (%RH)10/-/75 工作湿度 (%RH)10/-/75 平板探测器尺寸图
平板探测器 工业X-RAY无损成像探测器 平板探测器,1613平板探测器(先威光电); 1613XCD 技术资料 1613XCD是款高性能的平板探测器,具有.低功耗、 快速和可靠的图像传输、图像质量高等特点,同时 1613XCD 具备高度灵敏、稳定的自动曝光感。 描述 规格 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI 图像尺寸 (mm)159.25×128 像素矩阵 1280×1024 像素间距 (um) 125 A/D 转换 (bits) 16 灵敏度 (LSB/nGy,RQA5) 1.4 -------------------------------- 空间分辨率 (LP/mm)4 X-射线工作范围 (kV)40/-/150 探测器对外接口接口TYPE-C 数据接口类型 千兆网口 功率 (W) 12 交流电源 (V)100/-/240 AC 交流电源频率 (Hz)50/-/60 适配器输出电压 (V)24 DC 探测器尺寸 (cm)16x19.5x1.5 探测器重量 (kg,不含线缆) 0.8±0.1 探测器外壳材料 碳板,铝合金 存储温度 (ºC) -20/-/55 工作温度 (ºC) 5/-/35 存储和运输湿度 (%RH)10/-/75 工作湿度 (%RH)10/-/75 平板探测器尺寸图
1613数字平板探测器 平板探测器,1613平板探测器 1613XCD 技术资料 1613XCD是款高性能的平板探测器,具有.低功耗、 快速和可靠的图像传输、图像质量高等特点,同时 1613XCD 具备高度灵敏、稳定的自动曝光感。 描述 规格 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI 图像尺寸 (mm)159.25×128 像素矩阵 1280×1024 像素间距 (um) 125 A/D 转换 (bits) 16 空间分辨率 (LP/mm)4 X-射线工作范围 (kV)40/-/150 探测器对外接口接口TYPE-C 数据接口类型 千兆网口 功率 (W) 12 交流电源 (V)100/-/240 AC 交流电源频率 (Hz)50/-/60 适配器输出电压 (V)24 DC 探测器尺寸 (cm)16x19.5x1.5 探测器重量 (kg,不含线缆) 0.8±0.1 探测器外壳材料 碳板,铝合金 存储温度 (ºC) -20/-/55 工作温度 (ºC) 5/-/35 存储和运输湿度 (%RH)10/-/75 工作湿度 (%RH)10/-/75 平板探测器尺寸;图
电子元件封装后检测; IC CPU BGA、芯片、电子元件封装后检测
平板探测器DR平板探测器 平板探测器,1613平板探测器 1613XCD 技术资料 1613XCD是款高性能的平板探测器,具有.低功耗、 快速和可靠的图像传输、图像质量高等特点,同时 1613XCD 具备高度灵敏、稳定的自动曝光感。 描述 规格 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI 图像尺寸 (mm)159.25×128 像素矩阵 1280×1024 像素间距 (um) 125 A/D 转换 (bits) 16 灵敏度 (LSB/nGy,RQA5) 1.4 大线性剂量 (uGy,RQA5). 40 调制传递函数 @ 0.5LP/mm 0.84/0.86/- 调制传递函数 @1.0LP/mm 0.65/0.67/- 调制传递函数 @ 1.5LP/mm 0.47/0.49/- 调制传递函数 @ 2.0LP/mm 0.32/0.35/- 调制传递函数 @ 2.5LP/mm 0.22/0.24/- 调制传递函数 @ 3.0LP/mm 0.14/0.16/- 调制传递函数 @3.5LP/mm 0.10/0.11/- 残影 (%,300uGy, 60s) <0.5 量子探测效率 @ 0.0LP/mm (2.5uGy) 0.68/0.70/- 量子探测效率 @ 0.5LP/mm (2.5uGy) 0.58/0.60/- 量子探测效率 @ 1.0LP/mm (2.5uGy) 0.52/0.54/- 量子探测效率 @ 1.5LP/mm (2.5uGy) 0.47/0.49/- 量子探测效率 @ 2.0LP/mm (2.5uGy) 0.39/0.41/- 量子探测效率 @ 2.5LP/mm (2.5uGy) 0.31/0.33/- 量子探测效率 @ 3.0LP/mm (2.5uGy) 0.22/0.25/- 量子探测效率 @ 3.5LP/mm (2.5uGy) 0.13/0.15/- 空间分辨率 (LP/mm)4 X-射线工作范围 (kV)40/-/150 探测器对外接口接口TYPE-C 数据接口类型 千兆网口 功率 (W) 12 交流电源 (V)100/-/240 AC 交流电源频率 (Hz)50/-/60 适配器输出电压 (V)24 DC 探测器尺寸 (cm)16x19.5x1.5 探测器重量 (kg,不含线缆) 0.8±0.1 探测器外壳材料 碳板,铝合金 存储温度 (ºC) -20/-/55 工作温度 (ºC) 5/-/35 存储和运输湿度 (%RH)10/-/75 工作湿度 (%RH)10/-/75 平板探测器尺寸图
平板探测器 平板探测器 数字平板探测器, 描述 CsI 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI 图像尺寸 16×13cm 像素矩阵 1280×1024 像素间距 125um A/D转换 16bits 探测剂量 14 nGy 灵敏度 (LSB/uGy, RQA5) 525/553/581 线性剂量(RQA5). 110 uGy 动态范围(dB) 80/83.5/- MTF @ 1.0 LP/mm 0.60/0.65/- MTF @ 2.0 LP/mm 0.30/0.33/- MTF @ 3.0 LP/mm 0.15/0.18/- 残影 (%, 300uGy, 60s) -/0.10/0.25 DQE @ 0.0 LP/mm (2.5uGy, RQA5) 0.62/0.66/- DQE @ 1.0 LP/mm (2.5uGy, RQA5) 0.43/0.45/- DQE @ 2.0 LP/mm (2.5uGy, RQA5) 0.30/0.32/- DQE @ 3.0 LP/mm (2.5uGy, RQA5) 0.13/0.15/- 空间分辨率 4.0 LP/mm 采集时间 (无线) 0.5s X-射线工作范围 40-150 kV 平板存图 20幅 数据接口 802.11ac 功率 20W 交流电源 AC 100-240V 交流电源频率 50-60 Hz 适配器输出电压 DC 24V 探测器尺寸 195×166×17.5
平板探测器,1613平板探测器 1613XCD 技术资料 1613XCD是款高性能的平板探测器,具有.低功耗、 快速和可靠的图像传输、图像质量高等特点,同时 1613XCD 具备高度灵敏、稳定的自动曝光感。 描述 规格 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI 图像尺寸 (mm)159.25×128 像素矩阵 1280×1024 像素间距 (um) 125 A/D 转换 (bits) 16 灵敏度 (LSB/nGy,RQA5) 1.4 大线性剂量 (uGy,RQA5). 40 调制传递函数 @ 0.5LP/mm 0.84/0.86/- 调制传递函数 @1.0LP/mm 0.65/0.67/- 调制传递函数 @ 1.5LP/mm 0.47/0.49/- 调制传递函数 @ 2.0LP/mm 0.32/0.35/- 调制传递函数 @ 2.5LP/mm 0.22/0.24/- 调制传递函数 @ 3.0LP/mm 0.14/0.16/- 调制传递函数 @3.5LP/mm 0.10/0.11/- 残影 (%,300uGy, 60s) <0.5 量子探测效率 @ 0.0LP/mm (2.5uGy) 0.68/0.70/- 量子探测效率 @ 0.5LP/mm (2.5uGy) 0.58/0.60/- 量子探测效率 @ 1.0LP/mm (2.5uGy) 0.52/0.54/- 量子探测效率 @ 1.5LP/mm (2.5uGy) 0.47/0.49/- 量子探测效率 @ 2.0LP/mm (2.5uGy) 0.39/0.41/- 量子探测效率 @ 2.5LP/mm (2.5uGy) 0.31/0.33/- 量子探测效率 @ 3.0LP/mm (2.5uGy) 0.22/0.25/- 量子探测效率 @ 3.5LP/mm (2.5uGy) 0.13/0.15/- 空间分辨率 (LP/mm)4 X-射线工作范围 (kV)40/-/150 探测器对外接口接口TYPE-C 数据接口类型 千兆网口 功率 (W) 12 交流电源 (V)100/-/240 AC 交流电源频率 (Hz)50/-/60 适配器输出电压 (V)24 DC 探测器尺寸 (cm)16x19.5x1.5 探测器重量 (kg,不含线缆) 0.8±0.1 探测器外壳材料 碳板,铝合金 存储温度 (ºC) -20/-/55 工作温度 (ºC) 5/-/35 存储和运输湿度 (%RH)10/-/75 工作湿度 (%RH)10/-/75 平板探测器尺寸图
平板探测器 DR探测器
77um平板探测器,高分辨率平板探测器;
工业CT成像、无线DR平板探测器
农业农林牧鱼检测设备
工业X光检测设备 工业X光成像检测设备 工业X光检测设备、 工业CT成像装置、 电子封装元件、芯片、扦头、扦件检测;
电子封装元件芯片扦头扦件检测 工业X光成像检测设备 工业X光检测设备、 工业CT成像装置、 电子封装元件、芯片、扦头、扦件检测;
工业X光检测设备 焊缝气孔 夹渣 裂纹气孔检测设备 工业X光检测设备 焊缝气孔 夹渣 裂纹气孔检测设备
工业X光检测设备 焊缝气孔 夹渣 裂纹气孔检测设备
无线平板探测器77um平板探测器 平板探测器、无线平板探测器;百度:先威光电 平板探测器、无线平板探测器、77um平板探测器、99um平板探测器、工业15mv平板探测器;
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商业航天X-RAY检测仪器 商业航天检测仪器用于:无人机、济商业航天的电子产品的配件、生产制造、汽车工业、航空航天、航空商业、电子元件、芯片、接扦件、线缆、开关、材料科学研究、器械等多个领域的焊点、裂纹、气孔、异物等缺陷形态等等无损检测。先威。
商业航天检测仪器 商业航天X-RAY检测仪器 商业航天检测仪器用于:X-RAY无损检成像:电子产品的生产制造、汽车工业、航空航天、航空商业、电子元件、芯片、接扦件、线缆、开关、材料科学研究、器械等多个领域的焊点、裂纹、气孔、异物等缺陷形态等等无损检测。先威。
平板探测器 77um数字2530DR系统 平板探测器 77um数字DR系统 成像尺寸250MMX300MM,分辨率77UM(工业无损成像高分辨率数字平板探测器)先威光电;
2530平板探测器 77um数字DR系统 平板探测器 77um数字DR系统 成像尺寸250MMX300MM,分辨率77UM(工业无损成像高分辨率数字平板探测器)先威光电;
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平板探测器 77um数字DR系统 成像尺寸250MMX300MM,分辨率77UM(工业无损成像高分辨率数字平板探测器)上海先威光电;
平板探测器、无线平板探测器;百度:先威光电
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x-ray芯片检测设备 BGA.IC电阻电容电子封装元件检测
先威数字DR平板探测器 数字DR平板探测器 先威光电 高分辨平板探测器 ,无线平板探测器、 160X190X15MM;125UM;上海先威光电; 工业X-RAY检测成像装置;
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电子制造生产x-ray检测设备 X射线检测设备XDR-AZ350 x-ray检测设备 芯片BGA.IC、电阻、电容、电子封装元件检测、电子制造生产x-ray检测设备
X射线检测设备XDR-AZ350 x-ray检测设备 芯片BGA.IC、电阻、电容、电子封装元件检测、电子制造生产x-ray检测设备
3543 DR平板探测器 高分辨平板探测器 ,无线平板探测器、 350X430/430X430/160X190X15MM;上海先威光电;
1613 DR平板探测器 高分辨平板探测器 ,无线平板探测器、 160X190X15MM;125UM;上海先威光电;
无线平板探测器 高分辨平板探测器 高分辨平板探测器 ,无线平板探测器、 160X190X15MM;125UM;上海先威光电; 工业X-RAY检测成像装置;
平板探测器 无线平板探测器 高分辨平板探测器 ,无线平板探测器、 160X190X15MM;125UM;上海先威光电;
X-ray检测设备用于非破坏性产品检测; 适用于电子封装密封件,精密部件外观缺陷检测,工业X射线(非破坏性产品检测); 并支持定制与寄样免费测试;
X-RAY检测设备 X-RAY检测设备、先威光电;
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